紅外熱像技術(shù)可實(shí)現(xiàn)非接觸測(cè)溫，通過(guò)對(duì)物體表面的熱(溫度)分布成像與分析，快速發(fā)現(xiàn)物體的熱缺陷。

　　基于在溫度檢測(cè)方面的優(yōu)勢(shì)，紅外熱像技術(shù)現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于PCB電路板、芯片、LED、新能源電池與節(jié)能等各種電路和設(shè)備的溫度檢測(cè)中，顯著提高工程師們的效率：

　　熱像技術(shù)的優(yōu)勢(shì)

　　① 非接觸無(wú)損檢測(cè)，測(cè)溫更精準(zhǔn);② 超高紅外分辨率，每張熱像圖包含307200個(gè)溫度數(shù)據(jù);③ 高速采樣，1秒最高達(dá)30幀;④ 配備20μm、50μm 和 100μm 可選鏡頭;⑤ 支持全輻射熱像視頻流，視頻可二次任意分析，并提供趨勢(shì)圖、三維圖、數(shù)值矩陣等。

　　FOTRIC 熱像儀應(yīng)用案例如下：

　　No.1PCB電路板設(shè)計(jì)優(yōu)化

　　▲電路板溫度檢測(cè)

　　電路板哪里溫度最高?常用的數(shù)采和紅外測(cè)溫槍，所測(cè)溫度點(diǎn)數(shù)量有限，較難發(fā)現(xiàn)。使用FOTRIC 熱像儀來(lái)全屏測(cè)溫，可直觀觀察整個(gè)電路板表面的溫度分布，快速發(fā)現(xiàn)異常溫度點(diǎn)和器件。

　　▲電路板發(fā)熱研究

　　此外，在電路研發(fā)過(guò)程中，需要監(jiān)測(cè)整個(gè)電路板的溫度變化趨勢(shì)，圖片為PFC變頻器測(cè)試視頻中截取的圖片，工作時(shí)整流橋被擊穿，導(dǎo)致DSP溫度上升，F(xiàn)OTRIC 熱像儀的全輻射熱像視頻錄制功能，實(shí)時(shí)記錄了通電過(guò)程的溫度變化和分布情況。

　　No.2

　　電子產(chǎn)品老化測(cè)試

　　▲ 電路板老化測(cè)試

　　在電路板的老化測(cè)試中，需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行溫度監(jiān)控，使用 FOTRIC熱像儀可以實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)老化過(guò)程中產(chǎn)品的溫度情況，查看溫度的變化過(guò)程，以確定產(chǎn)品的性能，也可以避免在老化過(guò)程中由產(chǎn)品故障引起的火災(zāi)。

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